| Marca | Agar Scientific |
| Producto | S1988 |
| Descripción | SEM de alta resolución TestObject Sn / C a 12,5 mm bandeja de muestras |
| Código interno | PMX524316 |
| Peso | 1 |
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Resolución de prueba de objetos de oro más de C 3-50nm, 7mmx7mmx130, C-sustrato.
Resolución de prueba de objetos de oro más de C 2-30nm, 7mmx7mmx130, C-sustrato.
Estaño en el objeto de prueba de carbono, 10-100nm, 7mmx7mmx130, C-Subs.
estaño Universal de 5-30nm carbón, 7mmx7mmx130, C-substr
Muestra de Ensayo
Muestra de Ensayo
Ni / Cu EEB Referenzobject
Pt / Au EEB Referenzobject
Al / Si BSE Referenzobjekt
CSF PLANOTEC y análisis -Kalibrierkit partícula
pegatinas adhesivas conductoras
armario con 5 cajones
Ausome nanopartículas de oro 38nm, 8 mm de pin muestra estante L =)
Ausome alta resolución 27,3nm objeto de prueba en 12,5mm de suministro tipo pluma
titular Multi-muestra para bandeja de muestras 12 pin
sostenedor multi-muestra para bandeja de muestras de 29 espigas
Estaño en objeto de prueba -hullas a 12,5 mm -Stiftprobenteller
El estándar de referencia 70 nm Pitch montado en la placa de muestra de pin
objeto de prueba Longitud con periodo de 300 nm a la clavija placa de muestras
Acabado universal soporte de 25 mm de diámetro. jaula 45 Normas + Faraday
Biología - terminado - soporte con 18 estándares, 25 mm diam.
titular Finalizar para semiconductores 21 estándares, 25 mm diam.
PLANOTEC GSR - y el análisis Praktikal, kit de calibración
placa de muestra - pinzas para 9,5 mm a 19 mm
Placa de la muestra - pinzas para 6,5 mm a 9,5 mm
Placa de la muestra - pinzas para 3,2 mm a 4,7 mm
Short de mango SEM Pinza de 90 mm L
De mango largo SEM Pinza 130mm L
placa de muestra - Tijeras de pluma placa de muestra 12,5 mm
cizallas placa de muestra para Probentelller con un diámetro de 25 mm
